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薄膜厚度測量儀薄膜測厚儀的原理與技術參數

更新時間:2024-03-27      點擊次數:526

  本信息由濟南蘭光機電技術有限公司發布提供。

  塑料包裝材料厚度是否均勻,是檢測其各項性能指標的基礎。包裝材料厚度不均勻,會影響到其阻隔、拉伸強度等性能;對材料厚度實施高精度控制也是確保質量與控制成本的重要手段。

  薄膜厚度測量儀,又被稱為薄膜測厚儀、膜厚測試儀、薄膜厚度儀等,是一種用于測量薄膜、薄片、塑料片材、鋁箔、銅箔、電池隔膜、紙張、紙板等材料厚度的儀器設備。

  機械接觸式薄膜測厚儀的測試原理,是通過位移傳感器測試薄膜材料的厚度。在測試前,儀器的測量頭落在設備砧板上,傳感器讀取測量頭的初始位移值,測量頭抬起后,將試樣放置在砧板紙上,測量頭以同樣的壓力落在試樣上,傳感器讀取測量頭的位移值,兩次位移值之差則為試樣的厚度值。

薄膜厚度測量儀薄膜測厚儀技術參數:

測試范圍(標配):0~2mm

分辨率:0.1μm

重復性:0.4μm

測量范圍(選配):0~6、0~12mm

測量間距:0~1000mm(可設定)

進樣速度:1.5~80mm/s(可設定)

測量方式:機械接觸式

薄膜測量壓力及接觸面積:17.5±1 kPa、50 mm2

紙張測量壓力及接觸面積:100±1 kPa(標準配置) / 50±1 kPa(可選配置)、200 mm2

電源:220-240VAC 50Hz/120VAC 60Hz

外形尺寸:370mm(L)×350mm(W)×410mm(H)


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